表面検査装置および表面検査方法
- 開放特許情報番号
- L2021000944
- 開放特許情報登録日
- 2021/7/21
- 最新更新日
- 2021/7/21
基本情報
出願番号 | 特願2015-038571 |
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出願日 | 2015/2/27 |
出願人 | 国立大学法人岐阜大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2016/9/5 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人東海国立大学機構 |
発明の名称 | 表面検査装置および表面検査方法 |
技術分野 | 機械・加工 |
機能 | 検査・検出 |
適用製品 | 金属表面の凹凸検査装置 |
目的 | 被検査体の凹凸を精度よく検出可能な表面検査装置および表面検査方法を提供することを目的とする。 |
効果 | 被検査体の凹凸を精度よく検出することが可能となる。 |
技術概要 |
カメラで撮像した画像データに基づいて被検査体の測定領域内の測定点Tの面法線ベクトルを算出し、面法線ベクトルを内積する位置を示す算定点IPおよび当該算定点IPに対応する基準点M1を定めた指標値設定フィルタFRの算定点を測定領域L内の測定点Tに合わせて、算定点IPに一致する測定点Tの面法線ベクトルを内積することで基準点M1に対応する指標値を算出する。このとき、指標値を算出する毎に、指標値設定フィルタFRの算定点IPを合わせる測定点Tを変更して変更毎の基準点M1に対応する指標値を算出することで、当該測定領域Lの各座標に対応する指標値を特定し、測定領域Lにおいて基準範囲から外れた指標値に対応する座標を特定することで被検出体の凹凸位置を検出する。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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