| 出願番号 |
特願2006-228457 |
| 出願日 |
2006/8/24 |
| 出願人 |
国立大学法人東京農工大学 |
| 公開番号 |
特開2008-051662 |
| 公開日 |
2008/3/6 |
| 登録番号 |
特許第4882067号 |
| 特許権者 |
国立大学法人東京農工大学 |
| 発明の名称 |
絶対反射率の測定方法及び測定装置 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造 |
| 適用製品 |
物質の電磁波に対する絶対反射率の測定方法と測定装置 |
| 目的 |
精度良く物質の絶対反射率を測定する方法及び装置を提供する。 |
| 効果 |
被測定物質の絶対反射率を精度良く求めることができる。 |
技術概要
 |
屈折率および消光係数が既知の参照物質と絶対反射率を測定すべき被測定物質の反射強度をそれぞれ測定するステップと、それら測定された反射強度の比を計算するステップと、前記屈折率と消光係数とから計算により求めた上記参照物質の反射率と上記反射強度の比とを乗じて上記被測定物質の絶対反射率を測定するステップとを含み、
屈折率と消光係数が既知の上記参照物質は、測定波長域において透過率がゼロの不透明体の単結晶のシリコン、ガリウム砒素またはゲルマニウムであることを特徴とする絶対反射率の測定方法。 |
| 実施実績 |
【試作】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【可】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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