回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法

開放特許情報番号
L2021000840
開放特許情報登録日
2021/6/21
最新更新日
2021/6/21

基本情報

出願番号 特願2019-027786
出願日 2019/2/19
出願人 国立大学法人 大分大学
公開番号 特開2020-134303
公開日 2020/8/31
発明の名称 回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
目的 メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することが可能な回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法を提供する。
効果 メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することができる。
技術概要
テストパターンが設定された診断対象回路の複数のスキャンFFに出力されるクロック信号の周期を設定するクロック周期設定部と、
前記クロック周期設定部により所定の第1周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された応答シグネチャと、前記クロック周期設定部により前記第1周期よりも長い第2周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された期待シグネチャと、を比較する診断テスト部と、
を備えることを特徴とする回路診断テスト装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2021 INPIT