回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
- 開放特許情報番号
- L2021000840
- 開放特許情報登録日
- 2021/6/21
- 最新更新日
- 2023/1/26
基本情報
| 出願番号 | 特願2019-027786 |
|---|---|
| 出願日 | 2019/2/19 |
| 出願人 | 国立大学法人 大分大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2020/8/31 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人 大分大学 |
| 発明の名称 | 回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法 |
| 技術分野 | 情報・通信、電気・電子 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法 |
| 目的 | メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することが可能な回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法を提供する。 |
| 効果 | メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することができる。 |
技術概要) |
テストパターンが設定された診断対象回路の複数のスキャンＦＦに出力されるクロック信号の周期を設定するクロック周期設定部と、
前記クロック周期設定部により所定の第１周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンＦＦから出力される応答パターンに基づいて生成された応答シグネチャと、前記クロック周期設定部により前記第１周期よりも長い第２周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンＦＦから出力される応答パターンに基づいて生成された期待シグネチャと、を比較する診断テスト部と、 を備えることを特徴とする回路診断テスト装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【可】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
アピール情報
| アピール内容 | ＬＳＩの劣化故障について，ＢＩＳＴにより使用環境で最大分解能の故障診断を実現するための，テスト毎の期待署名をオンザフライで提供する回路機構. |
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登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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