MTF測定装置およびそのプログラム

開放特許情報番号
L2021000808
開放特許情報登録日
2021/6/9
最新更新日
2021/6/9

基本情報

出願番号 特願2017-031427
出願日 2017/2/22
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2018-136222
公開日 2018/8/30
登録番号 特許第6806587号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 MTF測定装置およびそのプログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 撮像系の空間周波数特性を示すMTFを測定するMTF測定装置およびそのプログラム
目的 Slanted-edge法において、エッジを含む領域を任意の形状で設定してMTFを測定することが可能なMTF測定装置およびそのプログラムを提供する。
効果 MTF測定の利便性を高めることができる。
技術概要
境界でコントラストの異なるチャートを用いて、撮像系の空間周波数特性を表すMTFを測定するMTF測定装置であって、
チャートを撮像したチャート画像において、境界を含んだ任意の形状の領域を設定するROI設定手段と、
ROI設定手段で設定された領域の画像を抽出する領域抽出手段と、
エッジを抽出して画像を生成するエッジ抽出手段と、
直交座標の予め定めた一方の座標軸に対するエッジの傾き角度を検出するエッジ傾き検出手段と、
一方の座標軸に対して、エッジの傾きをなくす方向にROI画像を傾き角度だけ回転する画像回転手段と、
回転後のエッジを関数で近似する関数近似手段と、
関数上で、ROI画像の画素位置と、当該画素位置に対応する直交座標の他方の座標軸におけるサブピクセル単位の位置とを対応付けた投影情報を生成する投影情報生成手段と、
投影情報を用いて、ROI画像における各画素の画素値を他方の座標軸に投影し、サブピクセル単位で平均化することで、エッジの特性を示すエッジプロファイルを生成する投影画素値平均化手段と、
エッジプロファイルからMTFを算出する周波数特性演算手段と、
を備えることを特徴とするMTF測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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