ＭＴＦ測定装置およびそのプログラム
- 開放特許情報番号
- L2021000808
- 開放特許情報登録日
- 2021/6/9
- 最新更新日
- 2021/6/9
基本情報
| 出願番号 | 特願2017-031427 |
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| 出願日 | 2017/2/22 |
| 出願人 | 日本放送協会 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2018/8/30 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 日本放送協会 |
| 発明の名称 | ＭＴＦ測定装置およびそのプログラム |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 | 撮像系の空間周波数特性を示すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置およびそのプログラム |
| 目的 | Slanted-edge法において、エッジを含む領域を任意の形状で設定してＭＴＦを測定することが可能なＭＴＦ測定装置およびそのプログラムを提供する。 |
| 効果 | ＭＴＦ測定の利便性を高めることができる。 |
技術概要) |
境界でコントラストの異なるチャートを用いて、撮像系の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置であって、
チャートを撮像したチャート画像において、境界を含んだ任意の形状の領域を設定するＲＯＩ設定手段と、 ＲＯＩ設定手段で設定された領域の画像を抽出する領域抽出手段と、 エッジを抽出して画像を生成するエッジ抽出手段と、 直交座標の予め定めた一方の座標軸に対するエッジの傾き角度を検出するエッジ傾き検出手段と、 一方の座標軸に対して、エッジの傾きをなくす方向にＲＯＩ画像を傾き角度だけ回転する画像回転手段と、 回転後のエッジを関数で近似する関数近似手段と、 関数上で、ＲＯＩ画像の画素位置と、当該画素位置に対応する直交座標の他方の座標軸におけるサブピクセル単位の位置とを対応付けた投影情報を生成する投影情報生成手段と、 投影情報を用いて、ＲＯＩ画像における各画素の画素値を他方の座標軸に投影し、サブピクセル単位で平均化することで、エッジの特性を示すエッジプロファイルを生成する投影画素値平均化手段と、 エッジプロファイルからＭＴＦを算出する周波数特性演算手段と、 を備えることを特徴とするＭＴＦ測定装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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