ＭＴＦ測定装置およびそのプログラム
- 開放特許情報番号
- L2021000797
- 開放特許情報登録日
- 2021/6/9
- 最新更新日
- 2021/6/9
基本情報
| 出願番号 | 特願2017-023583 |
|---|---|
| 出願日 | 2017/2/10 |
| 出願人 | 日本放送協会 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2018/8/16 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 日本放送協会 |
| 発明の名称 | ＭＴＦ測定装置およびそのプログラム |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 撮像系の空間周波数特性を示すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置およびそのプログラム |
| 目的 | 画素が対応しない投影軸のビンの発生状態を可視化して、精度の高いＭＴＦを測定することが可能なＭＴＦ測定装置およびそのプログラムを提供する。 |
| 効果 | ＲＯＩのエッジの傾きに応じて画素が投影軸のビンに対応しない状態を可視化して、測定者に提示することができる。
これによって、測定者がＲＯＩのエッジの傾きを適正に修正することが可能になり、精度の高いＭＴＦを測定することができる。 |
技術概要) |
境界でコントラストの異なるチャートを用いて、撮像系の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置であって、
前記撮像系によって前記チャートを撮像したチャート画像から、前記境界を含んだ画像であるＲＯＩ画像を抽出するＲＯＩ画像抽出手段と、 前記ＲＯＩ画像から、前記境界をエッジとして検出し、前記エッジの傾きに沿って前記ＲＯＩ画像の各画素位置を投影した座標軸上のサブピクセル間隔のビンの位置と前記画素位置とを対応付けたエッジ投影情報を生成するエッジ投影情報生成手段と、 前記エッジ投影情報をグラフとして表示する投影状態表示手段と、 前記エッジ投影情報を用いて、前記ＲＯＩ画像の各画素の画素値を前記座標軸に投影し、前記ビン単位で平均化することで、前記エッジの特性を示すエッジプロファイルを生成するエッジプロファイル生成手段と、 前記エッジプロファイルからＭＴＦを算出する周波数特性演算手段と、 を備えることを特徴とするＭＴＦ測定装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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