MTF測定装置およびそのプログラム

開放特許情報番号
L2021000797
開放特許情報登録日
2021/6/9
最新更新日
2021/6/9

基本情報

出願番号 特願2017-023583
出願日 2017/2/10
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2018-128434
公開日 2018/8/16
登録番号 特許第6795998号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 MTF測定装置およびそのプログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 撮像系の空間周波数特性を示すMTFを測定するMTF測定装置およびそのプログラム
目的 画素が対応しない投影軸のビンの発生状態を可視化して、精度の高いMTFを測定することが可能なMTF測定装置およびそのプログラムを提供する。
効果 ROIのエッジの傾きに応じて画素が投影軸のビンに対応しない状態を可視化して、測定者に提示することができる。
これによって、測定者がROIのエッジの傾きを適正に修正することが可能になり、精度の高いMTFを測定することができる。
技術概要
境界でコントラストの異なるチャートを用いて、撮像系の空間周波数特性を表すMTFを測定するMTF測定装置であって、
前記撮像系によって前記チャートを撮像したチャート画像から、前記境界を含んだ画像であるROI画像を抽出するROI画像抽出手段と、
前記ROI画像から、前記境界をエッジとして検出し、前記エッジの傾きに沿って前記ROI画像の各画素位置を投影した座標軸上のサブピクセル間隔のビンの位置と前記画素位置とを対応付けたエッジ投影情報を生成するエッジ投影情報生成手段と、
前記エッジ投影情報をグラフとして表示する投影状態表示手段と、
前記エッジ投影情報を用いて、前記ROI画像の各画素の画素値を前記座標軸に投影し、前記ビン単位で平均化することで、前記エッジの特性を示すエッジプロファイルを生成するエッジプロファイル生成手段と、
前記エッジプロファイルからMTFを算出する周波数特性演算手段と、
を備えることを特徴とするMTF測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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