磁性体観察方法および磁性体観察装置
- 開放特許情報番号
- L2021000726
- 開放特許情報登録日
- 2021/5/21
- 最新更新日
- 2022/9/21
基本情報
| 出願番号 | 特願2020-507917 |
|---|---|
| 出願日 | 2019/3/22 |
| 出願人 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2019/9/26 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
| 発明の名称 | 磁性体観察方法および磁性体観察装置 |
| 技術分野 | 情報・通信、電気・電子 |
| 機能 | 機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 | 磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを観察する方法、および、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを観察する装置 |
| 目的 | 試料に対する制限が緩く、かつ、磁化の向きまたは磁化の大きさの精密な測定が可能な磁性体観察技術を提供する。 |
| 効果 | 試料に対する制限が緩く、かつ、磁化の向きまたは磁化の大きさの精密な測定が可能な磁性体観察技術を提供することができる。 |
技術概要![]() |
磁性体を含む試料における磁化の向き又は磁化の大きさを観察する方法であって、
前記試料に照射されることによって前記磁性体を構成する元素に特性X線を放射させる励起線を前記試料上の一領域に照射する照射工程と、 前記励起線の照射によって前記元素が発した前記特性X線を、円偏光成分の回転方向毎に検出した2つの強度として認識する検出工程と、 前記検出工程において認識された前記2つの強度の差を算出する算出工程と、 を含んでいることを特徴とする磁性体観察方法。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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