磁気特性測定装置および磁気特性測定方法

開放特許情報番号
L2020002632
開放特許情報登録日
2020/12/25
最新更新日
2020/12/25

基本情報

出願番号 特願2019-033070
出願日 2019/2/26
出願人 国立大学法人 筑波大学
公開番号 特開2020-139744
公開日 2020/9/3
発明の名称 磁気特性測定装置および磁気特性測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 磁気特性測定装置および磁気特性測定方法
目的 磁性材料の磁気特性を高周波・高磁場で測定することができる磁気特性測定装置および磁気特性測定方法の提供。少量の測定試料で短時間に磁気特性を測定することができる磁気特性測定装置および磁気特性測定方法の提供。
効果 磁性材料の磁気特性を高周波・高磁場で測定することができるという格別の効果を奏する。さらに、少量の測定試料で短時間に磁気特性を測定することができるという効果も奏する。
技術概要
測定試料の磁気特性を測定する測定エリア、導電パターンがそれぞれ形成された複数の基板を積層した積層基板、前記導電パターンにより高周波磁界を発生して前記測定エリアに印加する励磁コイル、および、前記測定エリアにおける前記測定試料の磁気特性を検出するピックアップコイルを含む磁気特性測定部と、
前記励磁コイルに対して電力を供給する電源装置を制御すると共に、前記励磁コイルを流れる電流および前記ピックアップコイルの出力電圧に基づいて、前記測定試料の磁気特性を演算する制御演算部と、を備え、
前記励磁コイルとして使用する複数の前記導電パターンは、コンデンサと直列接続されて直列共振回路を構成する、
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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