電磁波検出方法及び電磁波検出装置

開放特許情報番号
L2020002426
開放特許情報登録日
2020/11/18
最新更新日
2020/11/18

基本情報

出願番号 特願2018-037015
出願日 2018/3/2
出願人 国立大学法人福井大学
公開番号 特開2019-152501
公開日 2019/9/12
発明の名称 電磁波検出方法及び電磁波検出装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 電磁波を利用した非破壊検査装置等に用いられる電磁波検出方法及び電磁波検出装置
目的 簡単かつ安価なコストで従来のEOサンプリング法による電磁波検出の感度を大幅に高めることができ、高速マッピングにも対応が可能な電磁波検出方法及び電磁波検出装置の提供。
効果 検出光の直交する二方向の偏光成分のうちの一方について、当該偏光成分を相対的に減衰等させる制御を行うだけで感度を高めることができる。また、偏光制御手段として光学フィルタを用いることができ、既存の電磁波検出装置に市販の光学フィルタを挿入するだけで電磁波検出の感度を高めることができる。
技術概要
EOサンプリング法を利用して異なる二つの偏光成分の検出光を検出する電磁波検出方法において、
前記検出光の偏光状態を表す偏光状態式の一部に係数βを挿入することで、前記検出光の信号強度が1/β(β<1)倍となる前記偏光状態式の構成部分を求め、
当該構成部分に相当する前記偏光成分をβ倍に変換するように偏光制御を行うこと、
を特徴とする電磁波検出方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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