病変探知システム、病変探知方法およびプログラム

開放特許情報番号
L2020001964
開放特許情報登録日
2020/10/7
最新更新日
2020/10/7

基本情報

出願番号 特願2018-148587
出願日 2018/8/7
出願人 学校法人日本大学
公開番号 特開2020-024564
公開日 2020/2/13
発明の名称 病変探知システム、病変探知方法およびプログラム
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 病変探知システム、病変探知方法およびプログラム
目的 病変探知システム、病変探知方法およびプログラムを提供する。
効果 診断閾値として用いられる適切な値を簡易な手法によって得ることができる病変探知システム、病変探知方法およびプログラムを提供することができる。
技術概要
一方の軸が検査値に設定され、他方の軸が被験者に設定された2次元座標上に、複数の被験者の検査値を示す複数の点を、検査値が低い順または検査値が高い順に並べてプロットするプロット部と、
前記プロット部によってプロットされた複数の点を視覚認識可能に出力する出力部とを備え、
前記出力部によって出力された複数の点を結ぶ曲線に含まれる屈折点が、臨床検査における診断閾値として用いられ、
前記プロット部は、前記複数の被験者の検査値の分布が正規分布である場合、または、前記複数の被験者の検査値のそれぞれが患者の検査値であるか否かが既知である場合に、前記複数の被験者の検査値を示す複数の点のプロットを行う、
病変探知システム。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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