日射計測装置

開放特許情報番号
L2020001928
開放特許情報登録日
2020/9/30
最新更新日
2020/9/30

基本情報

出願番号 特願2008-323006
出願日 2008/12/18
出願人 国立大学法人豊橋技術科学大学
公開番号 特開2010-145254
公開日 2010/7/1
登録番号 特許第5376504号
特許権者 国立大学法人豊橋技術科学大学
発明の名称 日射計測装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 日射計測装置
目的 気象以外の要因によって一時的且つ過渡的に発生する影に影響されることなく、日射を正確且つ的確に計測できる日射計測装置を提供する。
効果 影による誤作動を生じることが無く、確実な日射エネルギー利用手段の自動制御を行うことができる。
技術概要
日射を計測すべき対象区画内に2個以上の光電変換センサモジュールを間隔を有して接続したセンサモジュール群を配置し、前記センサモジュール群を構成する光電変換センサモジュールは直列又は直並列に接続されていて、その両端に並列に接続された抵抗で構成され、前記抵抗の両端に発生する電圧が計測され、この電圧からオームの法則に基づき短絡電流値が得られ、前記短絡電流値が影に遮蔽されない1個の光電変換センサモジュールの短絡電流値又はその近くになるように前記抵抗の抵抗値が選定され、前記センサモジュール群の短絡電流により、又は前記短絡電流の変換量により前記日射を計測することを特徴とする日射計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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