pHを特定する方法及びその装置並びにイオン濃度を特定する方法
- 開放特許情報番号
- L2020001862
- 開放特許情報登録日
- 2020/9/16
- 最新更新日
- 2020/9/16
基本情報
出願番号 | 特願2014-556415 |
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出願日 | 2014/1/7 |
出願人 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2014/7/17 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 |
発明の名称 | pHを特定する方法及びその装置並びにイオン濃度を特定する方法 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造 |
適用製品 | pHを特定する方法及びその装置並びにイオン濃度を特定する方法 |
目的 | pHセンサアレイにおいて、ガラス参照電極を用いることなく、試料のpHを高い精度で測定する。 |
効果 | 試料に接触させる参照電極としてガラス参照電極以外のものを採用可能となる。 |
技術概要 |
pHセンサアレイを構成する素子iの出力Voiより該素子iが接触する試料のpHを特定する方法であって、
前記素子iの出力Voiを次のように規定し、 Voi=Si×pHi+Gi×Vrm+Ci式(1) 前記素子iの出力Voiから前記素子i固有の感応係数Si、Gi及び定数Ciを特定する検定ステップと、 前記第1素子i1の出力Voi1と前記第2素子i2の出力Voi2を測定する第1の測定ステップと、 前記第1の測定ステップで測定された前記第1素子i1及び第2素子i2の出力Voi1、Voi2、並びに前記検定ステップで特定された前記第1素子i1及び第2素子i2に関する感応係数Si1、Si2、Gi1、Gi2及び定数Ci1、Ci2から前記試料の電位Vrmを特定する電位特定ステップと、 前記センサアレイを前記試料に接触させて前記素子iの出力Voiを測定する主測定ステップと、 前記電位特定ステップで特定された電位Vrm、前記主測定ステップで測定された前記素子iの出力Voi並びに前記検定ステップで特定された感応係数Si、Gi及び定数Ciから前記素子iに接する試料のpHiを求めるpH特定ステップと、 を含む試料のpHを特定する方法。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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