表面欠陥検査員の検査能力判定装置および検査能力判定方法

開放特許情報番号
L2020001791
開放特許情報登録日
2020/9/9
最新更新日
2020/9/9

基本情報

出願番号 特願2014-054204
出願日 2014/3/17
出願人 国立大学法人豊橋技術科学大学
公開番号 特開2015-175800
公開日 2015/10/5
登録番号 特許第6411757号
特許権者 国立大学法人豊橋技術科学大学
発明の名称 表面欠陥検査員の検査能力判定装置および検査能力判定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 表面欠陥検査員の検査能力判定装置および検査能力判定方法
目的 目視による表面欠陥を検査する検査員の検査技量を総合的かつ定量的に評価することができる装置および方法を提供する。
効果 判断基準値の偏り度による正確性、ばらつき値による信頼性、分布間距離による弁別力などを定量的に評価することができる。
技術概要
製品の表面欠陥を目視により検査する検査員の検査能力を判定するための装置であって、
複数の検査員が製品の表面欠陥の有無を検査した検査結果を製品ごとに記憶する記憶手段と、
個々の検査員について、検査結果から、表面欠陥の大きさに対する表面欠陥の有無を決定する確率を示す心理測定曲線を生成する心理測定曲線作成手段と、
心理測定曲線から、個々の検査員の検査における判断基準値およびばらつき値を導出する手段と、
検査基準値と前記判断基準値との差により判断基準値の偏り度を求める手段と、
個々の検査員について、検査結果から欠陥を有する決定と、欠陥を有しない決定とを区別しつつ、両決定について検査対象の欠陥の大きさの確率密度に関する正規分布を生成する手段と、
両決定についての二つの正規分布から両分布間距離を求める手段と、
判断基準値の偏り度およびばらつき値ならびに両分布間距離について、複数の検査員の結果と対比しつつ各数値を正規化してパラメータを導出する手段と、
パラメータをレーダチャートに分解したときに形成される面積によって検査能力を評価する評価手段とを備える
ことを特徴とする表面欠陥検査員の検査能力判定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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