アミロイド形成を評価する方法、装置及びプログラム

開放特許情報番号

L2020001753

開放特許情報登録日

2020/8/31

最新更新日

2022/12/13

基本情報

出願番号	特願2018-242280
出願日	2018/12/26
出願人	国立大学法人室蘭工業大学
公開番号	特開2020-106287
公開日	2020/7/9
登録番号	特許第7166612号
特許権者	国立大学法人室蘭工業大学
発明の名称	アミロイド形成を評価する方法、装置及びプログラム
技術分野	情報・通信、食品・バイオ、有機材料
機能	機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品	蛍光プローブを用いてアミロイド形成を評価する方法、並びに当該方法において用いられる装置及びプログラム
目的	高精度でアミロイド形成を評価する手段を提供する。
効果	アミロイドβ、タウ、α−シヌクレインといった多様なタンパク質のアミロイド形成を、実験を行う者のスキルや試料の種類に依存した実験誤差を低減させて高精度に評価することができる。これにより、微量ハイスループットスクリーニングシステムにおいてより多くの検体を並行して高い精度で評価することができ、アミロイド形成阻害物質のスクリーニングを効率的に行うことができる。
技術概要	被験物質の存在下又は非存在下で、アミロイド形成性タンパク質と、アミロイド形成性タンパク質の重合により形成されるアミロイドへの結合能を有する蛍光プローブとを反応させる凝集反応ステップと、 凝集反応ステップにおいて得た凝集反応生成物の蛍光を撮像する撮像ステップであって、凝集反応生成物の蛍光を、撮像される蛍光画像内の関心領域に含まれる各画素の輝度値から以下の式１： Sum Intensity（％）＝（関心領域内の各画素の輝度値の合計／関心領域内の各画素の理論上の最大輝度値の合計）×100 によって算出されるSum Intensityが15〜85％となる露出条件で撮像する、ステップと、 各画素の輝度値から標準偏差を算出する標準偏差算出ステップと、 標準偏差算出ステップにおいて算出した被験物質存在下での輝度値標準偏差の値と被験物質非存在下での輝度値標準偏差の値とを比較し、被験物質存在下での輝度値標準偏差の値が被験物質非存在下での輝度値標準偏差の値より小さい場合に、被験物質はアミロイド形成阻害活性を有すると判定する活性判定ステップと を含む、被験物質のアミロイド形成阻害活性を判定する方法。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

アピール情報

アピール内容	譲渡に関しては応相談

登録者情報

登録者名称	国立大学法人室蘭工業大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】