屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置
- 開放特許情報番号
- L2020001703
- 開放特許情報登録日
- 2020/8/27
- 最新更新日
- 2020/8/27
基本情報
出願番号 | 特願2015-220789 |
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出願日 | 2015/11/10 |
出願人 | 国立大学法人電気通信大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2017/5/25 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人電気通信大学 |
発明の名称 | 屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造 |
適用製品 | 屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置 |
目的 | 空気屈折率の補正を行う光学系のスペースを抑え、且つ光学的距離の測定精度を高めることが可能な屈折率補正法、前記屈折率補正法に基づく距離測定法及び前記距離測定法を用いた距離測定装置を提供する。 |
効果 | 空気屈折率の補正を行う光学系のスペースを抑え、且つ周波数領域において二以上含む光周波数コムの高精度な周波数制御性を活用することで、干渉測定等により光学的距離の測定精度を高めることが可能な屈折率補正法、前記屈折率補正法に基づく距離測定法及び前記距離測定法を用いた距離測定装置が実現される。 |
技術概要 |
測定領域中を第一速度で伝搬する第一波と、前記第一波の中心波長と同一の中心波長であり、且つ前記測定領域中を前記第一速度とは異なる第二速度で移動する第二波と、を同一の光源から前記測定領域中に出射する工程と、
前記第一波を前記測定領域中で伝搬させた際の第一光学的距離と、前記第二波を前記測定領域中で伝搬させた際の第二光学的距離とをそれぞれ測定する工程と、 前記第一光学的距離と前記第二光学的距離との第一光学的距離差を得る工程と、 前記第一光学的距離に基づいて算出される第一屈折率又は前記第二光学的距離に基づいて算出される第二屈折率を前記第一光学的距離差に基づいて補正する工程と、 を備える屈折率補正法。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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