日射計測装置ならびにこれを使用する照射状態分析装置および光分布測定装置

開放特許情報番号
L2020001593
開放特許情報登録日
2020/8/14
最新更新日
2020/8/19

基本情報

出願番号 特願2016-088855
出願日 2016/4/27
出願人 国立大学法人豊橋技術科学大学
公開番号 特開2017-198520
公開日 2017/11/2
発明の名称 日射計測装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 分析装置および光分布測定装置
目的 温度変化を補正しつつ日射を計測し得る日射計測装置を提供するとともに、この日射計測装置を使用しつつ、特定波長の照射の状態を計測し、または反射光などの散乱光を含む光の照射分布を測定し得る装置を提供する。
効果 温度上昇に伴って当該センサ等の出力が増大する場合に、サーミスタによる抵抗値の変化により出力抵抗値を調整することにより、短絡電流に近似させた略短絡電流を得ることができ、その温度変化を補正しつつ日射計測を可能にするものである。特に、サーミスタをケースの壁面または光電変換センサの裏面に当接させることにより、温度変化を気温ではなく物体温度に応じて抵抗値を変化させることができるため、光電変換センサそのものの温度変化に応じた補正を可能にするものである。
技術概要
単一の光電変換センサ、複数の光電変換センサにより形成される光電変換センサ群、または該光電変換センサ群を直列もしくは並列に接続してなる光電変換センサモジュールと、
前記光電変換センサ、前記光電変換センサ群、前記光電変換センサモジュール、または前記光電変換センサモジュールを直列もしくは直並列に接続してなる光電変換センサモジュール群の中から選択された1つ以上の両端に接続された抵抗と、該抵抗に対して直列または並列に接続されたサーミスタとを備え、
前記抵抗および前記サーミスタによって出力抵抗を形成し、該出力抵抗の両端に発生する電圧からオームの法則に基づく略短絡電流値を得るとともに、該略短絡電流値の変化量により日射を計測する
ことを特徴とする日射計測装置。
実施実績 【有】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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