微結晶構造解析装置、微結晶構造解析方法及びX線遮蔽装置

開放特許情報番号
L2020001516
開放特許情報登録日
2020/8/3
最新更新日
2020/8/3

基本情報

出願番号 特願2013-557542
出願日 2013/2/6
出願人 国立大学法人京都大学
公開番号 WO2013/118761
公開日 2013/8/15
登録番号 特許第6099053号
特許権者 国立大学法人京都大学
発明の名称 微結晶構造解析装置、微結晶構造解析方法及びX線遮蔽装置
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 微結晶構造解析装置、微結晶構造解析方法及びX線遮蔽装置
目的 擬単結晶化した試料を回転させながらX線を照射しても、良好なX線回折像を得ることができる微結晶構造解析装置、微結晶構造解析方法及びX線遮蔽装置を提供する。
効果 擬単結晶化した試料を回転させながらX線を照射しても、良好なX線回折像を得ることができる。
技術概要
磁場発生部と、
微結晶を懸濁させた試料に時間的に変動する磁場を印加して前記微結晶を三次元配向させるように、前記磁場発生部に対して前記試料を回転させる試料駆動部と、
前記試料駆動部により回転している前記試料に対してX線を照射するX線源と、
前記試料を透過して回折したX線を検出可能なX線検出部とを備えた微結晶構造解析装置であって、
前記試料の回転方向の一部である特定部位の回転位置に応じて、前記X線検出部によるX線の検出が不能な状態と、前記X線検出部によるX線の検出を可能な状態とに切り換える状態切換装置を備えていることを特徴とする微結晶構造解析装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【有】   
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