干渉計

開放特許情報番号
L2020000763
開放特許情報登録日
2020/4/16
最新更新日
2020/4/16

基本情報

出願番号 特願2016-142034
出願日 2016/7/20
出願人 学校法人東京電機大学
公開番号 特開2018-013371
公開日 2018/1/25
発明の名称 干渉計
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 干渉計
目的 複数の位置を簡易且つ高精度に測定できる干渉計を提供する。
効果 複数の位置を簡易且つ高精度に測定可能になる。ボールレンズと液晶フィルターにより構成される反射鏡を拡散光の中に置くだけで良いので、光学の知織がなくても簡単に干渉計を構成できる結果として、測定の用途も広がることになる。
技術概要
拡散光を発生させる光源と、
光源からの拡散光を入射した光軸に沿ってそれぞれ反射する複数のボールレンズと、
光源と複数のボールレンズとの間に配置されて個々のボールレンズに対する拡散光の入射を遮断可能とする液晶フィルターと、
個々のボールレンズに対応する液晶フィルターの各部分における光の遮断を制御する制御手段と、
ボールレンズで反射された反射光を受光すると共に、光源に源を有する光の一部を参照光として受光する受光素子と、
を含む干渉計。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 東京電機大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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