増強電磁場を用いたアレイ型センサーを使用した測定方法及び測定装置
- 開放特許情報番号
- L2020000665
- 開放特許情報登録日
- 2020/3/27
- 最新更新日
- 2020/3/27
基本情報
| 出願番号 | 特願2017-115920 |
|---|---|
| 出願日 | 2012/11/1 |
| 出願人 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2017/10/19 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 発明の名称 | 増強電磁場を用いたアレイ型センサーを使用した測定方法及び測定装置 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 個々のナノ構造物近傍に存在する分子のシグナルを個別に計測し識別する測定方法、及びこの測定を行う測定装置 |
| 目的 | ナノスケール空間の電磁場の増幅機能を持つ構造物を並べたアレイ型センサーを使用して、溶液中に存在する複数種類の分子種の同定とその定量を一回の測定で簡便に行える計測手法を提供する。 |
| 効果 | 特性の揃ったホットスポットからのシグナルを個別に観測することができる構造のアレイ型センサーを使用して、溶液中に存在する多様な分子種の同定やその定量的な測定等を容易に実現することができる。 |
技術概要) |
電磁場増強特性が実質的に同一であるとともに、実質的に同一の形状を有する複数のナノ構造物を、これらのナノ構造物からの光を互いに分離して観測可能な間隔で誘電体からなる基板上に一次元あるいは二次元状にかつ前記基板から垂直方向に離間して配置したアレイ型センサーと、
前記アレイ型センサーの複数のナノ構造物に順次励起光を与えるレーザー光源と、 前記レーザー光源からの励起光を前記複数のナノ構造物に順次照射するための位置決めを行う機構と、 前記励起光に応答して前記複数のナノ構造物から得られる光である光信号を受け取る光学系と、 前記光学系からの前記光信号をスペクトル計測して記録する分光計測系と を使用し、 溶液中をランダムに拡散する分子または粒子が前記ナノ構造体表面に生じた増強近接場により形成されるホットスポットに入ったことによる前記光の変化を検出する 分子または粒子の検出方法。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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