形状評価方法、形状評価装置、及び形状評価装置を備えた装置

開放特許情報番号

L2020000395

開放特許情報登録日

2020/2/24

最新更新日

2020/2/24

基本情報

出願番号	特願2006-550641
出願日	2005/12/6
出願人	国立大学法人横浜国立大学
公開番号	WO2006/073036
公開日	2006/7/13
登録番号	特許第4876256号
特許権者	国立大学法人横浜国立大学
発明の名称	形状評価方法、形状評価装置、及び形状評価装置を備えた装置
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	形状の曲面品質評価
目的	全ての方向のゆがみを一回の演算で検出する。 形状評価を行う特徴線の算出に要する演算回数を減らし、演算時間を短縮する。 反射線やハイライト線の特徴線を時間的に変化させ、動的形状による評価を可能とする。
効果	全ての方向のゆがみを一回の演算で検出することができる。 形状評価を行う特徴線の算出に要する演算回数を減らし、演算時間を短縮することができる。 反射線やハイライト線の特徴線による形状評価を評価者に依存することなく容易に行うことができる。 反射線やハイライト線の特徴線を時間的に変化する動的形状とすることができる。
技術概要	形状曲面上に光を照射して映し出される光のラインをコンピュータでシミュレートして形状の曲面を評価する特徴線を求め、当該特徴線によって形状の曲面を評価する形状評価方法であって、 三次元空間上で任意の向きにあり、半径を可変とし、中心位置を移動可能とする円環状光源が、前記曲面上に形成するサーキュラーハイライト線を形状の曲面を評価する特徴線とし、 コンピュータにより、形状の曲面上の各点について、当該曲面上の点を通る法線方向のベクトルの中で、前記円環状光源と同径で位置及び向きを同じくする三次元空間上の円との距離を所定範囲内とするベクトルが前記曲面上を通る点を求めることにより、前記曲面上の複数の点の中から、前記円環状光源からの光が当該曲面上を照射する点を抽出し、当該抽出した点によって前記特徴線を形成する演算を行うことを特徴とする形状評価方法。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人横浜国立大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】