形状計測装置および形状計測方法

開放特許情報番号
L2020000373
開放特許情報登録日
2020/2/19
最新更新日
2020/2/19

基本情報

出願番号 特願2014-047412
出願日 2014/3/11
出願人 国立大学法人 和歌山大学
公開番号 特開2015-172487
公開日 2015/10/1
登録番号 特許第6486010号
特許権者 国立大学法人 和歌山大学
発明の名称 形状計測装置および形状計測方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 物体表面の反射率の変化に対する三次元計測誤差低減手法と装置
目的 格子投影法での計測において、反射率が異なる領域の境界付近に発生する誤差を低減することが可能な物体表面の反射率の変化に対する三次元計測誤差低減方法とその装置を提供する。
効果 異なる反射率の境界付近に発生する誤差を低減可能で、異なる材質の境界付近に発生する誤差を低減可能で、段差部の境界付近に発生する誤差を低減可能な物体表面の反射率の変化に対する三次元計測誤差低減方法とその装置を提供できる。
技術概要
物体表面の反射率の変化に対する三次元計測誤差の低減を行なう三次元計測方法であって、
カメラと、カメラの周囲に設置した複数の格子投影装置を用いて、各画素において重みを予め求めておき、前記予め求められた重みを元にして前記各格子投影装置を用いて得られた前記物体表面の高さ情報の重み付け平均を画素ごとに行う三次元計測方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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