形状計測装置および形状計測方法

開放特許情報番号
L2020000370
開放特許情報登録日
2020/2/19
最新更新日
2020/2/19

基本情報

出願番号 特願2015-003566
出願日 2015/1/9
出願人 国立大学法人 和歌山大学
公開番号 特開2016-128785
公開日 2016/7/14
登録番号 特許第6420159号
特許権者 国立大学法人 和歌山大学
発明の名称 形状計測装置および形状計測方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 形状計測装置および形状計測方法
目的 計測対象物体の形状を高速かつ高精度、さらには広い計測範囲で計測することができる装置および方法を提案する。
効果 複数の光源と格子基板とを有する格子パターン投影部において、複数の光源を格子基板からの距離が異なる複数の位置の各々に少なくとも1つ配置するように構成したため、計測対象物体の形状を高速かつ高精度、さらには広い計測範囲で計測することができる。
技術概要
計測対象物体の形状を計測する装置であって、
前記計測対象物体に所定の形状の格子パターンを投影するための投影用光を発光する複数の光源と、前記投影用光を通過させて前記格子パターンを形成する格子基板とを有する格子パターン投影部と、
前記格子パターンが投影された前記計測対象物体を撮影する撮影部と、
撮影された前記計測対象物体の画像に対して位相解析処理を施して前記計測対象物体の形状を求める解析部と、
を備え、
前記複数の光源は、前記格子基板からの距離が異なる複数の位置の各々に少なくとも1つ配置されていることを特徴とする形状計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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