受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム

開放特許情報番号
L2020000355
開放特許情報登録日
2020/2/17
最新更新日
2020/2/17

基本情報

出願番号 特願2008-533048
出願日 2007/2/23
出願人 国立大学法人横浜国立大学
公開番号 WO2008/029522
公開日 2008/3/13
登録番号 特許第4904509号
特許権者 国立大学法人横浜国立大学
発明の名称 受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 高周波帯域における電気材料、磁気材料等の測定方法および、測定システム
目的 整合終端器の影響を排除して、その大きさや形状の制限が極めて少ない測定試料を用いて、高感度のPIMの検出が可能な方法および測定システムを提供する。
効果 整合終端器の影響を排除して、その大きさや形状の制限が極めて少ない測定試料を用いて、高感度のPIMの検出ができる。
技術概要
高周波帯域において被測定試料から発生する受動相互変調ひずみ信号を測定するシステムであって、
相異なる周波数の複数の試験信号を発生させる複数の信号発生手段と、
複数の信号発生手段からの複数の試験信号が入力される第1の端子と、第1の端子から入力された複数の試験信号が出力され受動相互変調ひずみ信号が入力される第2の端子と、受動相互変調ひずみ信号のみを出力する第3の端子とを含む信号分離手段と、
信号分離手段の第2の端子に一端を接続された伝送線路であって、被測定試料および伝送線路間をインピーダンス不整合の状態として、伝送線路上に複数の試験信号の定在波を発生させ、被測定試料は伝送線路上の定在波が発生している2導体間または伝送線路の他端に配置される、伝送線路と、
信号分離手段の第3の端子に接続され、受動相互変調ひずみ信号を測定する受動相互変調ひずみ測定手段と
を備え、
伝送線路は他端において被測定試料により短絡され、複数の試験信号の電流定在波の腹の位置において発生する被測定試料の受動相互変調ひずみが測定されることを特徴とする測定システム。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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