出願番号 |
特願2006-244056 |
出願日 |
2006/9/8 |
出願人 |
国立大学法人横浜国立大学 |
公開番号 |
特開2008-063195 |
公開日 |
2008/3/21 |
登録番号 |
特許第5017642号 |
特許権者 |
国立大学法人横浜国立大学 |
発明の名称 |
MCM−68のトポロジーを持つ結晶性多孔質シリケート及びその製法 |
技術分野 |
化学・薬品、無機材料 |
機能 |
検査・検出 |
適用製品 |
ゼオライトMCM−68のトポロジーを有し、Alを全く含まない結晶性多孔質シリケート及びその製法 |
目的 |
ゼオライトMCM−68のトポロジーを有し、Alを全く含まない結晶性多孔質シリケート及びその製法を提供する。 |
効果 |
Alを全く含まない結晶性多孔質シリケートは、粉末X線回折のピークが鋭く(半値幅が狭い)、結晶性が高いため、熱安定性、水熱安定性が高く、耐久性に優れた材料となりうる。欠損をSi原子で埋めれば、MCM−68トポロジーをもち、なおかつ全シリカ組成をもつシリケートとなる。また、欠損を部分的にSi原子で埋め、残った欠損をさらに他の金属原子で埋めれば、MCM−68の骨格をもつ各種メタロシリケートが得られる。 |
技術概要
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組成式R↓4Si↓(112−n)O↓(232−m)H↓(8+4n−2m)(式中、n=0〜12、m=0〜n、RはN,N,N',N'−テトラアルキルビシクロ[2.2.2]オクト−7−エン−2,3:5,6−ジピロリジニウム(但し、アルキル基は、その炭素数が4以下であり、同じであっても異なってもよい。)で表され、下記の値を含むX線回折パターンをもつ合成したままの(as-synthesized)結晶性多孔質シリケート。
2θ(単位:度)=6.88±0.10、8.16±0.10、8.84±0.10、9.72±0.10、19.48±0.10、21.82±0.10、22.70±0.10、23.24±0.10、ただし、2θ=23.24±0.10のピークの半値幅は0.20度以下である。 |
実施実績 |
【無】 |
許諾実績 |
【無】 |
特許権譲渡 |
【否】
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特許権実施許諾 |
【可】
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