受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム

開放特許情報番号
L2020000310
開放特許情報登録日
2020/2/10
最新更新日
2020/2/10

基本情報

出願番号 特願2011-246557
出願日 2007/2/23
出願人 国立大学法人横浜国立大学
公開番号 特開2012-078361
公開日 2012/4/19
登録番号 特許第5424220号
特許権者 国立大学法人横浜国立大学
発明の名称 受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 高周波帯域における電気材料、磁気材料等の測定方法および、測定システム
目的 整合終端器の影響を排除して、その大きさや形状の制限が極めて少ない測定試料を用いて、高感度のPIMの検出が可能な方法および測定システムを提供する。
効果 整合終端器の影響を排除して、その大きさや形状の制限が極めて少ない測定試料を用いて、高感度のPIMの検出が可能な方法および測定システムを提供することができる。
技術概要
高周波帯域において被測定試料から発生する受動相互変調ひずみ信号を測定するシステムであって、
相異なる周波数の複数の試験信号を発生させる複数の信号発生手段と、
前記複数の信号発生手段からの前記複数の試験信号が入力される第1の端子と、前記第1の端子から入力された前記複数の試験信号が出力され前記受動相互変調ひずみ信号が入力される第2の端子と、前記受動相互変調ひずみ信号のみを出力する第3の端子とを含む信号分離手段と、
前記信号分離手段の前記第2の端子に一端を接続された同軸線路であって、他端から試験信号を放射し、該試験信号により被測定試料から発生する受動相互変調ひずみ信号を検出する同軸線路と、
前記信号分離手段の前記第3の端子に接続され、前記受動相互変調ひずみ信号を測定する受動相互変調ひずみ測定手段と、
を備え、
前記同軸線路の前記他端は開放されており、前記同軸線路は不整合状態にあって、前記同軸線路を経由して、前記試験信号の印加によって前記被測定試料において生ずる誘導電流に基づいて発生する受動相互変調ひずみ信号を検出することを特徴とする測定システム。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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