テラヘルツ電場波形検出装置

開放特許情報番号
L2020000171
開放特許情報登録日
2020/1/24
最新更新日
2020/1/24

基本情報

出願番号 特願2015-017672
出願日 2015/1/30
出願人 国立大学法人横浜国立大学
公開番号 特開2016-142594
公開日 2016/8/8
登録番号 特許第6483453号
特許権者 国立大学法人横浜国立大学
発明の名称 テラヘルツ電場波形検出装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 テラヘルツ波の電場波形をテラヘルツ時間領域分光法(THz−TDS)によって検出する検出装置
目的 テラヘルツ波とチャープ付プロープパルス波とを用いたポンプ・プローブ方式によるテラヘルツ波の波形計測において、1ショットのテラヘルツ波のテラヘルツ電場波形を単一の検出器(シングルフォトダイオード)で検出する。
効果 テラヘルツ波とチャープ付プロープパルス波とを用いたポンプ・プローブ方式によるテラヘルツ波の波形計測において、1ショットのテラヘルツ波のテラヘルツ電場波形を単一の検出器(シングルフォトダイオード)で検出することができる。
技術概要
チャープパルス波とテラヘルツ波との差周波光及び/又は和周波光によってテラヘルツ波のテラヘルツ電場波形に基づくチャープパルス波を強度変調し、当該強度変調によってテラヘルツ波からテラヘルツ電場波形のスペクトル情報及び位相情報をチャープパルス波に重畳させたチャープパルス変調波を出射するチャープ波変調部と、
前記チャープ波変調部のチャープパルス変調波を時間方向に伸張させて低波数側に波数シフトする波形伸張部と、
前記波形伸張部で時間方向に伸張したチャープパルス変調伸張波をアナログ信号に変換する光−電気変換部と、
前記光−電気変換部で変換したアナログ信号からテラヘルツ電場波形のスペクトル情報及び/又は位相情報を検出する電場波形検出部と
を備え、
前記チャープ波変調部は、
電気光学結晶(EO結晶)に対して前記チャープパルス波とテラヘルツ波の光軸を非同軸に配置し、差周波光によるチャープパルス変調波と和周波光によるチャープパルス変調波とを前記チャープパルス波の光軸方向に対してそれぞれ異なる方向から出射することを特徴とする、テラヘルツ電場波形検出装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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