測定装置及び測定方法

開放特許情報番号
L2020000131
開放特許情報登録日
2020/1/21
最新更新日
2020/1/21

基本情報

出願番号 特願2017-135745
出願日 2017/7/11
出願人 学校法人明治大学
公開番号 特開2019-020146
公開日 2019/2/7
発明の名称 測定装置及び測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 測定装置及び測定方法
目的 光ファイバ内の各位置における光電界成分の時間軸における連続的な測定を可能にする。
効果 検査装置は、光ファイバの内部の複数の検査位置又は検査領域における光電界成分に関する情報を、連続的に取得することができる。
技術概要
試験光を生成する試験光生成部と、
参照光を生成する参照光生成部と、
(i)前記試験光生成部が生成した前記試験光を測定対象に入射して得られる後方散乱光及び反射光の少なくとも一方と、(ii)前記参照光生成部が生成した前記参照光とのビート信号を検出するビート信号検出部と、
を備え、
前記試験光生成部は、その周波数が第1周波数から第2周波数まで周期的に変化する前記試験光を生成し、
前記参照光生成部は、その周波数が第3周波数から第4周波数まで周期的に変化する前記参照光を生成し、
前記試験光の周波数の変動周期と、前記参照光の周波数の変動周期とは略同一であり、
前記参照光の周波数変動の変動パターンの始点の出現時刻と、前記試験光の周波数変動の変動パターンの始点の出現時刻との差は、予め定められた条件を満足する、
測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 明治大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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