固体のスピン特性からトポロジカル絶縁性を評価する方法及び装置

開放特許情報番号
L2020000126
開放特許情報登録日
2020/1/21
最新更新日
2020/1/21

基本情報

出願番号 特願2018-537039
出願日 2017/7/28
出願人 国立大学法人 筑波大学
公開番号 WO2018/042971
公開日 2018/3/8
発明の名称 固体のスピン特性からトポロジカル絶縁性を評価する方法及び装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 超短パルスレーザーを用いて、非接触かつ室温・大気中で、トポロジカル絶縁体等において固体表面に局在するスピン状態の評価と表面バンド状態の評価を同時に行う方法及び装置
目的 非接触かつ、室温・大気中の条件下で、トポロジカル絶縁体等における固体表面に局在するスピン状態の評価と表面バンド状態の評価を同時に行う方法及び装置を実現する。
効果 固体におけるスピンの特性を、時間分解カー回転測定あるいは時間分解ファラデー回転測定により得ることで、トポロジカル絶縁性を評価する方法が可能となった。
このトポロジカル絶縁性を評価する方法は、トポロジカル絶縁体をはじめ、光記録や電気メモリに使用される相変化記録膜材料や、あるいは半導体などのあらゆる固体材料に対して適用可能である。
このトポロジカル絶縁性を評価する方法によれば、評価対象試料の膜厚を1nm〜10mmの幅広い領域で可能とし、かつ、室温・大気中で評価を可能とする装置を実現できる。
技術概要
励起光としてフェムト秒レーザーパルスを、λ/4波長板を回転させることで偏光状態を変化させトポロジカル絶縁体の固体試料である固体表面に照射し、固体表面に、逆ファラデー効果及び逆コットン・ムートン効果の両方又は一方を誘起せしめ、
該効果に基づいて生じるλ/4波長板回転角依存性を計測することにより、トポロジカル絶縁体等における固体表面に局在するスピン状態の評価と表面バンド状態の評価を行い、トポロジカル絶縁性を評価することを特徴とする固体のスピン特性からトポロジカル絶縁性を評価する方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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