欠陥セル検出方法およびその装置

開放特許情報番号

L2020000055

開放特許情報登録日

2020/1/15

最新更新日

2021/5/14

基本情報

出願番号	特願2015-186766
出願日	2015/9/24
出願人	学校法人幾徳学園
公開番号	特開2017-063533
公開日	2017/3/30
登録番号	特許第6691705号
特許権者	学校法人幾徳学園
発明の名称	欠陥セル検出方法およびその装置
技術分野	電気・電子
機能	機械・部品の製造、検査・検出
適用製品	太陽電池モジュールの検査方法およびその装置
目的	照度の大小に依存せず、太陽電池モジュールのセルごとの故障を正確に検出する。
効果	可変抵抗器で照度を調整することにより、照度が極端に低い場合でも、正確に欠陥セルを検出することができる。
技術概要	複数のセルを有する太陽電池モジュールの各セルを検査する方法であって、 太陽電池モジュールと並列に照度調整用の可変抵抗器を接続し、当該可変抵抗器の端子電圧を測定する電圧計と、前記電圧計の測定電圧を読み取る信号処理手段を有する電気回路を用いて太陽電池モジュールの欠陥セルの検出方法であって、 検査対象のセルに影をつける、または、検査対象のセルに光を照射させずに、太陽電池モジュール内の他のセル全てに光を照射し、 前記電圧計の測定電圧に応じた前記太陽電池モジュールのセルに照射する光の照度に応じて、可変抵抗器の抵抗値を設定し、 基準電圧に対する前記電圧計が測定した電圧の電圧降下率を求め、 当該電圧降下率が所定以下の場合、前記影をつけたセルを欠陥セルと判断する、 太陽電池モジュールの欠陥セルの検出方法。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

アピール情報

アピール内容	太陽光発電システムの発電効率を上げるための新型MPPT制御スキャン法とそれを応用した制御技術です。この技術により部分影による大幅な出力低下の抑制やパネルの異常の検出・回避が可能になります。

登録者情報

登録者名称	神奈川工科大学

その他の情報

関連特許	国内 【有】 国外 【有】