旋光度測定装置
- 開放特許情報番号
- L2020000010
- 開放特許情報登録日
- 2020/1/13
- 最新更新日
- 2022/11/1
基本情報
| 出願番号 | 特願2018-037602 |
|---|---|
| 出願日 | 2018/3/2 |
| 出願人 | 秋田県 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2019/9/12 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 秋田県 |
| 発明の名称 | 旋光度測定装置 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 光学活性物質の旋光度を計測する旋光度測定装置 |
| 目的 | ファラデーセルを使用せずに旋光度測定装置を構成することにより、低消費電力かつ小型化が可能な旋光度測定装置を提供する。 |
| 効果 | 金属磁性薄膜を含む積層体により構成され、飽和磁場が小さい軟磁性材料を用いることで、低消費電力かつ小型の旋光度測定装置が提供できる。 |
技術概要) |
少なくとも、直線偏光を出射する光源ユニット、金属磁性層と誘電体光干渉層と金属反射層とを含む積層体で構成された磁気光学変調素子、磁場印加機構および光検出器を有し、
前記光源ユニットから出射された前記直線偏光を測定対象に入射し、前記測定対象を通過した後の前記直線偏光が前記磁気光学変調素子に入射光として入射したときに、前記積層体で発生する多重反射によって、磁気光学信号が増強する条件で前記光源ユニットから光を照射し、 前記測定対象の通過にともなう前記直線偏光の偏光面の回転角度を、前記磁場印加機構によって前記積層体の磁化を制御することにより、前記積層体からの反射光の変化である前記磁気光学信号に変換して前記光検出器によって計測することにより、前記測定対象の旋光度を測定することを特徴とする旋光度測定装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
アピール情報
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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