磁気光学効果計測装置

開放特許情報番号
L2020000003
開放特許情報登録日
2020/1/13
最新更新日
2020/9/9

基本情報

出願番号 特願2011-122769
出願日 2011/5/31
出願人 秋田県
公開番号 特開2012-251797
公開日 2012/12/20
登録番号 特許第5914903号
特許権者 秋田県
発明の名称 磁気光学効果計測装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 磁性試料上の微小サイズ領域の加熱に伴う試料温度及び微小サイズ領域の磁気光学効果を計測する磁気光学効果計測装置
目的 試料上の微小領域を加熱し、この加熱に伴う同領域の温度計測並びに磁気計測を実施することが可能な磁気光学効果計測装置を提供するにある。
効果 実験室規模で利便性が高く実用性を備えた、マイクロメーターオーダー領域の試料加熱と温度計測および磁気計測を同時又は希望するタイミングで行なう装置を実現することができる。また、磁気光学効果計測装置に直入射型反射光学素子を用いることで強磁場中においても、高い空間分解能と偏光面の乱れのない精度の高い計測が可能である。マイクロメーターオーダーサイズの試料を加熱して、同時又は希望するタイミングでその領域の温度計測および磁気的変化を計測する要請に応えることができる。
技術概要
ある波長を有する第1の光ビームを発生し、第1の光ビームに直線偏光または円偏光の特性を与える第1光源光学系と、
加熱用赤外波長を有する第2の光ビームを発生する第2光源部と、
第1及び第2の光ビームを同一光路に向ける光学系と、
光路上に配置された磁性体試料に磁界を印加する磁石装置と、
直入射型反射光学素子と、
第1及び第2の光ビームを透過するピンホールと、
第1の光ビームを検出して温度変化を伴う微小領域における磁気光学効果を計測する第1の検出器と、及び
微小領域から伝播された輻射赤外線を検出して微小領域の温度変化特性を検出する第2の検出器と、
を具備し、微小領域の温度変化に対する磁気光学効果の計測を行うことを特徴とする磁気光学効果計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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