光学式3次元形状計測装置及び光学式3次元形状計測方法

開放特許情報番号
L2019001664
開放特許情報登録日
2019/9/20
最新更新日
2019/9/20

基本情報

出願番号 特願2009-275592
出願日 2009/12/3
出願人 国立大学法人茨城大学
公開番号 特開2011-117832
公開日 2011/6/16
登録番号 特許第5487920号
特許権者 国立大学法人茨城大学
発明の名称 光学式3次元形状計測装置及び光学式3次元形状計測方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 光学式3次元形状計測装置及び光学式3次元形状計測方法、特に、光沢のある物体表面の3次元形状計測に適用可能な光学式3次元計測装置及び3次元計測方法
目的 無光沢表面のみならず、鏡面などの光沢表面をもつ物体の光学式3次元形状測定を実現可能とするための光学式3次元形状計測装置及び光学式3次元形状計測方法を提供する。
効果 無光沢表面のみならず、鏡面などの光沢表面をもつ物体の光学式3次元形状測定を実現可能とするための光学式3次元形状計測装置及び光学式3次元形状計測方法が得られる。
技術概要
光線を測定対象物に照射する光源と、前記光線が前記測定対象物に照射された光線照射面で反射した反射光の入射ベクトルを検出する光入射ベクトル検出手段と、前記光線照射面の3次元位置を算出する照射面位置算出手段と、を備え、
前記照射面位置算出手段が、3次元ベクトル解析により、前記2つの画像センサの受光位置および前記光学系の幾何学条件から、前記2つの画像センサへの入射ベクトルを導出し、前記測定対象物上の光線の反射位置ベクトルを導出することによって、前記光線照射面の3次元位置を算出すること
を特徴とする光学式3次元形状計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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