導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置および劣化測定方法

開放特許情報番号
L2019001406
開放特許情報登録日
2019/8/23
最新更新日
2019/8/23

基本情報

出願番号 特願2010-191747
出願日 2010/8/30
出願人 学校法人金井学園
公開番号 特開2012-047665
公開日 2012/3/8
登録番号 特許第5495062号
特許権者 学校法人金井学園
発明の名称 導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置および劣化測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置および劣化測定方法
目的 ケーブルを切断する必要がなく、かつ、導電体によってマイクロ波が吸収されることもなく、外周を被覆する絶縁体の劣化および材料変質を高精度に測定することができる導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置および劣化測定方法を提供する。
効果 ケーブルを切断する必要がなく、かつ、導電体によってマイクロ波が吸収されることもなく、外周を被覆する絶縁体の劣化および材料変質を高精度に測定することができることから、実用的利用価値は頗る高いものがあると云える。
技術概要
導体が絶縁体により被覆されてなるケーブルについて、この絶縁体の劣化状態を測定するための装置であって、
導波管を有し、かつ、壁面にピンホールが開設されたマイクロ波空洞共振器と
ケーブルを保持可能なホールド部材と
マイクロ波を発振可能なガン発振器と
マイクロ波空洞共振器内に導入可能なサーキュレータと
反射してきたマイクロ波を増幅させるアンプと
増幅させたマイクロ波を検知可能なマイクロ波観測器とを少なくとも具備して構成されており、
ホールド部材に保持されたケーブルが、マイクロ波空洞共振器のピンホールの外側開口部を密着状態に被覆可能である一方、
ガン発振器から発振されたマイクロ波がサーキュレータにより導波管を介してマイクロ波空洞共振器内に導入され、
マイクロ波の一部が外側開口部から漏出可能であって、
漏出したマイクロ波がホールド部材に保持されたケーブルの絶縁体に照射され、かつ、マイクロ波空洞共振器内において反射して、
反射されたマイクロ波がアンプによって増幅されてマイクロ波観測器により検知して観測可能であることを特徴とする導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人金井学園

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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