| 出願番号 |
特願2010-287832 |
| 出願日 |
2010/12/24 |
| 出願人 |
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
| 公開番号 |
特開2012-137301 |
| 公開日 |
2012/7/19 |
| 登録番号 |
特許第5667431号 |
| 特許権者 |
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
| 発明の名称 |
三次元座標測定機簡易検査用ゲージ |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
三次元座標測定機簡易検査用ゲージ |
| 目的 |
ＪＩＳＢ ７４４０-２に関する三次元座標測定機の寸法検査（目盛校正）の簡易検査と同時にＪＩＳＢ ７４４０-５に関するマルチスタイラスの簡易検査およびそれぞれのスタイラスまたは方向性の相関の評価も行える三次元座標測定機簡易検査用ゲージを提供すること。 |
| 効果 |
短時間に簡便な操作で寸法検査の他にマルチスタイラスの検査も同時に日常的な検査として実施することができ、三次元座標測定機およびスタイラスを備えたプローブの総合的な簡易検査が可能となることで、より信頼性の高い品質管理、維持管理が可能となる。 |
技術概要
 |
基台と、前記基台上に設けられる半球状の本体と、それぞれ一方の端部に保持具を介して球体が取り付けられ、もう一方の端部が前記半球状の本体に固定される複数本のシャフトからなり、該複数本のシャフトのうち、１本のシャフトは前記半球状の本体の最も高い位置から鉛直方向に延びるように取り付けられ、残りのシャフトは平面視したときに隣のシャフトと一定の角度をなすように且つ斜め上方向に延びるように取り付けられ、前記残りのシャフトは、隣り合ったシャフトがそれぞれ水平面に対して異なった傾斜角度をもって前記半球状の本体の中心を基準に放射状に斜め上方向に延びていることを特徴とする三次元座標測定機簡易検査用ゲージ。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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