スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置

開放特許情報番号
L2019000919
開放特許情報登録日
2019/6/20
最新更新日
2019/6/20

基本情報

出願番号 特願2017-170670
出願日 2017/9/5
出願人 国立大学法人福井大学
公開番号 特開2019-045398
公開日 2019/3/22
発明の名称 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置
目的 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置を提供すること
効果 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置を提供できる。
技術概要
表面に塗膜あるいはシート材料を有する対象物にレーザー光源からレーザー光を照射し、前記対象物の表面からの散乱光を撮影手段により撮像して、前記対象物の表面あるいはその近傍のき裂や欠損部もしくは前記対象物の表面に付けられた前記塗膜や前記シート材料の膜面の浮きや剥離の欠陥を検出する欠陥検出方法であって、
前記対象物の振動時に撮影された画像について、時間的に異なる複数の前記画像に対する演算処理を行うことで、前記欠陥を検出することを特徴とする欠陥検出方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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