X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにX線三次元測定装置及び方法
- 開放特許情報番号
- L2019000835
- 開放特許情報登録日
- 2019/6/12
- 最新更新日
- 2019/6/12
基本情報
出願番号 | 特願2015-519944 |
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出願日 | 2014/5/29 |
出願人 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
公開番号 | |
公開日 | 2014/12/4 |
登録番号 | |
特許権者 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
発明の名称 | X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにX線三次元測定装置及び方法 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造 |
適用製品 | X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにX線三次元測定装置及び方法 |
目的 | 従来問題になっていたアーチファクト等を補正により除去してより高精度の画像再構成を実現することができる、X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにX線三次元測定装置及び方法を提供すること。 |
効果 | 対象領域の素材密度、組織の特性をイメージングすることが可能になる。従来問題になっていたアーチファクトを補正によって除去することができ、より精度の高い3次元画像を取得することができる。また、同時に測定試料に含まれる元素の3次元分布情報を取得することも可能になり、CTによる計測技術の向上、デジタルエンジニアリング技術の進展、高精度シミュレーションの分野での応用が期待される。 |
技術概要 |
撮像対象試料にX線を照射するX線源と、
撮像対象試料から発生する特性X線を検出するエネルギー分散型検出器と、 前記検出器で検出された特性X線のピークを数値化する信号処理手段と、 前記信号処理手段からの信号を基に画像を再構成する画像再構成手段と、 を備える、X線エネルギー別画像再構成装置。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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