Ｘ線三次元測定装置及びＸ線三次元測定方法

開放特許情報番号

L2019000826

開放特許情報登録日

2019/6/12

最新更新日

2019/6/12

基本情報

出願番号	特願2013-224627
出願日	2013/10/29
出願人	地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
公開番号	特開2015-087182
公開日	2015/5/7
登録番号	特許第6210841号
特許権者	地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
発明の名称	Ｘ線三次元測定装置及びＸ線三次元測定方法
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	Ｘ線三次元測定装置及びＸ線三次元測定方法
目的	Ｘ線ＣＴ画像を補正して測定対象物のエッジを精確に特定することができるＸ線三次元測定装置等を提供する。
効果	実測エッジの一部分とＸ線ＣＴ画像のエッジの一部分との間の相関関係情報を取得する相関情報取得手段と、相関関係情報とＸ線ＣＴ画像のエッジの他の部分とに基づいて実測エッジの他の部分を推定するエッジ推定手段と、をさらに備えることができる。
技術概要	三次元座標軸上における測定対象物のＸ線ＣＴ画像を取得する画像取得手段と、 前記三次元座標軸上における前記測定対象物の三次元形状の位置情報を取得する位置情報取得手段と、 前記Ｘ線ＣＴ画像の画素サイズよりも小さいメッシュを設定し、前記位置情報取得手段で取得した前記測定対象物の三次元形状の位置情報を点群として前記メッシュ上に配置し、前記点群からなる実測エッジと前記Ｘ線ＣＴ画像のエッジとの差分を算出し、前記差分が所定の範囲内に収まるように前記Ｘ線ＣＴ画像を補正する画像補正手段と、 前記実測エッジの一部分と前記Ｘ線ＣＴ画像のエッジの一部分との間の相関関係情報を取得する相関情報取得手段と、 前記相関関係情報と前記Ｘ線ＣＴ画像のエッジの他の部分とに基づいて前記実測エッジの他の部分を推定するエッジ推定手段と、 を備え、 前記画像補正手段は、前記エッジ推定手段で推定した実測エッジと前記Ｘ線ＣＴ画像のエッジとの差分を算出し、前記差分が所定の範囲内に収まるように前記Ｘ線ＣＴ画像を補正する、 Ｘ線三次元測定装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

その他の情報

関連特許	国内 【有】 国外 【無】