三次元測定装置及び三次元測定方法

開放特許情報番号
L2019000825
開放特許情報登録日
2019/6/12
最新更新日
2019/6/12

基本情報

出願番号 特願2013-224629
出願日 2013/10/29
出願人 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
公開番号 特開2015-087183
公開日 2015/5/7
登録番号 特許第6194226号
特許権者 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
発明の名称 三次元測定装置及び三次元測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 三次元測定装置及び三次元測定方法
目的 測定対象物の三次元形状を測定する際の作業効率を格段に向上させることができる三次元測定装置等を提供する。
効果 測定対象物の測定点を設定する測定点設定手段を有することができる。測定点設定手段としては、オペレータによる入力部の操作に基づいて測定点を設定するものや、X線CT画像に基づいて測定点を算出するものを採用することができる。
技術概要
三次元座標軸上における測定対象物のX線CT画像を取得する画像取得手段と、前記画像取得手段で取得した前記測定対象物のX線CT画像を仮想プローブとともに表示する画像表示手段と、前記仮想プローブを操作する操作手段と、前記仮想プローブの動きに連動するプローブにより三次元座標軸上における前記測定対象物の三次元形状を実測する実測手段と、を備え、前記画像取得手段で使用される三次元座標軸と前記実測手段で使用される三次元座標軸とは共通である三次元測定装置であって、
前記操作手段は、前記測定対象物の測定点を設定する測定点設定手段と、前記測定点設定手段で設定した一の測定点から他の測定点へと前記仮想プローブを移動させる際における前記仮想プローブと前記X線CT画像との干渉を避けるための逃げ経路を設定する逃げ経路設定手段と、を有する、三次元測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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