CT装置用校正器

開放特許情報番号
L2019000754
開放特許情報登録日
2019/5/29
最新更新日
2019/5/29

基本情報

出願番号 特願2017-183254
出願日 2017/9/25
出願人 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
公開番号 特開2018-063243
公開日 2018/4/19
発明の名称 CT装置用校正器
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 校正器
目的 CT装置による寸法測定と校正を同時に行うための校正器を提供する。
効果 CT装置による寸法測定と校正を同時に行うための校正器を提供することができる。
技術概要
測定対象物を支持する支持体(100)と、前記支持体上に設けられ、寸法が既知であり、および、前記測定対象物と同時にCTスキャンされる、校正用の基準体(310、320、330)と、を備える。また、1つの基準体に2種類の測定方向(同一方向及び対向方向)がある場合、スケーリングの校正とオフセットの校正を分けて行うため、全体として、より精度の高い校正をすることができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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