ＣＴ装置用校正器

基本情報

出願番号	特願2017-183254
出願日	2017/9/25
出願人	地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
公開番号	特開2018-063243
公開日	2018/4/19
登録番号	特許第7038399号
特許権者	地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
発明の名称	ＣＴ装置用校正器
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	校正器
目的	ＣＴ装置による寸法測定と校正を同時に行うための校正器を提供する。
効果	ＣＴ装置による寸法測定と校正を同時に行うための校正器を提供することができる。
技術概要	測定対象物を支持する支持体（１００）と、前記支持体上に設けられ、寸法が既知であり、および、前記測定対象物と同時にＣＴスキャンされる、校正用の基準体（３１０、３２０、３３０）と、を備える。また、１つの基準体に２種類の測定方向（同一方向及び対向方向）がある場合、スケーリングの校正とオフセットの校正を分けて行うため、全体として、より精度の高い校正をすることができる。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者名称	地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター