LA−ICP−MS装置を用いた定量分析方法およびLA−ICP−MS装置

開放特許情報番号
L2019000747
開放特許情報登録日
2019/5/29
最新更新日
2019/5/29

基本情報

出願番号 特願2017-030413
出願日 2017/2/21
出願人 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
公開番号 特開2018-136190
公開日 2018/8/30
発明の名称 LA−ICP−MS装置を用いた定量分析方法およびLA−ICP−MS装置
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 LA−ICP−MS装置を用いた定量分析方法およびLA−ICP−MS装置
目的 固体標準試料を用いることなく、LA-ICP-MS装置を用いて定量分析する方法を提供する。
固体標準試料を用いることなく、定量分析が可能なLA-ICP-MS装置を提供する。
効果 固体標準試料を用いることなく、LA-ICP-MS装置を用いて定量分析を行うことができる。また、固体標準試料を用いることなく、定量分析が可能なLA-ICP-MS装置を実現することができる。
技術概要
本発明の定量分析方法は、LA部2、またはETV部1によって生じた試料の微粉体をイオン化して質量分析を行うICP-MS部3を備えるLA-ICP-MS装置を用いる。そして、分析対象の固体試料9にレーザーアブレーションを行うことによって生じた試料の微粒子をICP-MS部3へ導入し、固体試料9の検出元素イオンの第1信号強度を測定する工程と、固体試料9に含まれた元素を既知量含む標準液体試料49を加熱気化することによって生じた試料の微粒子をICP-MS部3へ導入し、標準液体試料49から得られた上記検出元素の検出元素イオンの第2信号強度を測定する工程と、第1信号強度と、第2信号強度とに基づいて固体試料9中の上記検出元素の含有量を求める工程と、を有する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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