光学特性測定装置および光学特性測定方法

開放特許情報番号
L2019000736
開放特許情報登録日
2019/5/29
最新更新日
2019/5/29

基本情報

出願番号 特願2016-091317
出願日 2016/4/28
出願人 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
公開番号 特開2017-198606
公開日 2017/11/2
発明の名称 光学特性測定装置および光学特性測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 被測定物の光学特性を測定する光学特性測定装置および光学特性測定方法
目的 被測定物の光学特性の測定を高速かつ高精度に行いつつ、その場合であっても装置の小型化および低価格化に対応することのできる光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。
効果 被測定物の光学特性の測定を高速かつ高精度に行いつつ、その場合であっても装置の小型化および低価格化に対応することができるようになる。
技術概要
第一焦点および第二焦点を有する回転楕円体の前記第一焦点側の一部に相当する曲面を備えるとともに、照射された光の一部を反射し他部を透過する光透過性を有した材質により前記曲面が形成されてなる楕円透過ドームと、
前記第一焦点に位置する被測定物から発せられる光のうち、前記楕円透過ドームにおける前記曲面で反射される光について、当該光を正反射して前記第二焦点の鏡像反転位置に集光させる鏡面反射板と、
前記鏡像反転位置で光を受光し、その受光結果を前記被測定物からの光の分布特性の測定に供する受光部と、
を備えることを特徴とする光学特性測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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