光線指向特性測定装置および光線指向特性測定方法

開放特許情報番号
L2019000719
開放特許情報登録日
2019/5/24
最新更新日
2019/5/24

基本情報

出願番号 特願2014-205612
出願日 2014/10/6
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2016-076576
公開日 2016/5/12
登録番号 特許第6412392号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 光線指向特性測定装置および光線指向特性測定方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 光線指向特性測定装置および光線指向特性測定方法
目的 実際に配線まで形成した発光素子を作製することなく、発光素子の光線指向制御部から射出される光線を模擬的に作製しこの光線の指向特性を測定することが可能な光線指向特性測定装置および光線指向特性測定方法を提供すること。
効果 評価用試料の光線指向制御部から射出された光線の指向特性を発光素子の光線指向制御部から射出される光線の指向特性として測定することができるので、発光素子そのものを作製しなくても、発光素子の光線指向制御部から射出される光線の指向特性を測定することができる。
技術概要
評価する発光素子と同じ光線指向制御部を備える評価用試料における前記光線指向制御部から射出された光線の指向特性を、前記発光素子の光線指向制御部から射出された光線の指向特性として測定する光線指向特性測定装置であって、
基板上に下部半導体層と、励起光によって励起されて発光する活性層と、上部半導体層とが順に積層されるとともに、前記上部半導体層の表面から突出して設けられ、先端の射出面から光を放射する複数の柱状の前記光線指向制御部とを備える前記評価用試料と、
前記評価用試料の底面側に配置され、当該評価用試料の前記活性層における前記光線指向制御部の中心の直下を含む領域に、前記活性層の材料のバンドギャップエネルギーよりも大きいエネルギーを有する前記励起光を照射する発光手段と、
前記評価用試料の前記光線指向制御部から射出された光線を前記指向特性として測定する光検出装置と、を備え、
当該活性層の表面から前記光線指向制御部の底面までの距離が、前記発光素子の活性層の表面から前記光線指向制御部の底面までの距離と等しいことを特徴とする光線指向特性測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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