寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法

開放特許情報番号
L2019000685
開放特許情報登録日
2019/5/22
最新更新日
2019/5/22

基本情報

出願番号 特願2012-164640
出願日 2012/7/25
出願人 国立大学法人金沢大学
公開番号 特開2014-025748
公開日 2014/2/6
登録番号 特許第6176598号
特許権者 国立大学法人金沢大学
発明の名称 寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、機械・部品の製造
適用製品 寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法
目的 斜めから撮影した場合であっても寸法の測定精度が低下することがなく、測定対象が直方体形状に限定されずに汎用性の高い寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法を提供する。
効果 斜めから撮影した撮影画像であっても、透視投影変換により撮影画像を正面から撮影した画像に近似させてから、その透視投影変換後の画像においてスケールを算出するため、正面画像と同等の測定精度が得られる。透視投影変換は、マーカに基づいて行うため、測定対象が直方体形状に限定されることはない。これにより、斜めから撮影した場合であっても測定精度が低下することがなく、且つ、汎用性の高い寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法を提供することができる。
技術概要
ユーザによりマーカの実空間における寸法が入力されると、当該マーカの寸法を記憶手段に記憶する寸法記憶ステップと、マーカと測定対象とを含む撮影画像を取得する撮影画像取得ステップと、マーカの正面像を撮影したときの画像に含まれる少なくとも四つの点を基準点としたときに、撮影画像取得ステップにて取得された撮影画像から、基準点に対応する対応点を特定する対応点特定ステップと、記憶手段に記憶されているマーカの姿勢と、撮影画像取得ステップにて取得された撮影画像中のマーカの姿勢が揃うように、基準点と対応点の対応関係をユーザにより指定可能とし、指定された対応関係にて、対応点特定ステップにて特定された各対応点が、対応する基準点に位置するように透視投影変換するための変換パラメータを算出し、当該変換パラメータに基づいて撮影画像を透視投影変換する透視投影変換ステップと、マーカの実空間における寸法を記憶手段から取得し、透視投影変換後の画像におけるマーカの座標と、実空間におけるマーカの寸法とから、透視投影変換後の画像のスケールを算出するスケール算出ステップと、を含む処理をコンピュータに実行させることを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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