電子スピン共鳴測定装置、半導体装置、及び電子スピン共鳴の測定方法

開放特許情報番号
L2019000623
開放特許情報登録日
2019/5/16
最新更新日
2019/5/16

基本情報

出願番号 特願2014-167768
出願日 2014/8/20
出願人 国立大学法人金沢大学
公開番号 特開2016-045016
公開日 2016/4/4
登録番号 特許第6362964号
特許権者 国立大学法人金沢大学
発明の名称 電子スピン共鳴測定装置、半導体装置、及び電子スピン共鳴の測定方法
技術分野 情報・通信
機能 免振・制振、機械・部品の製造
適用製品 電子スピン共鳴測定装置、電子スピン共鳴を測定するための半導体装置、及び、電子スピン共鳴の測定方法
目的 電子スピン共鳴測定装置において、測定装置の構造を単純化しより簡単に電子スピン共鳴を測定する。
効果 電子スピン共鳴の測定装置の構造を単純化できる。また、より簡単に電子スピン共鳴を測定できる。
技術概要
測定対象物に対して第1方向に第1磁場を印加する磁場印加部と、
前記測定対象物に対して第2方向に交流磁場である第2磁場を印加するインダクタ部と、
前記インダクタ部と接続されて発振回路を形成し、素子パラメータを変化することにより前記第2磁場の周波数を変化させる発振回路形成部と、
前記第2磁場の周波数に対応する前記発振回路の発振周波数を計数する発振周波数計数部と、
前記発振周波数と前記素子パラメータとを関連づけて、前記発振周波数の前記素子パラメータについての関数として表現される前記測定対象物の電子スピン共鳴スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
を備える電子スピン共鳴測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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