結晶性高分子の劣化測定方法
- 開放特許情報番号
- L2019000457
- 開放特許情報登録日
- 2019/4/12
- 最新更新日
- 2020/12/16
基本情報
| 出願番号 | 特願2016-248326 |
|---|---|
| 出願日 | 2016/12/21 |
| 出願人 | 国立大学法人金沢大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2018/6/28 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人金沢大学 |
| 発明の名称 | 結晶性高分子の劣化測定方法 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 検査・検出 |
| 適用製品 | 結晶性高分子の劣化測定方法 |
| 目的 | 結晶性高分子の劣化を初期段階から検出できる結晶性高分子の劣化測定方法を提供する。 |
| 効果 | 結晶性高分子の劣化を初期段階から検出できる。 |
技術概要) |
結晶性高分子のラマンスペクトルを測定する工程と、
測定したラマンスペクトルと標準試料のラマンスペクトルとを比較し、前記結晶性高分子のラメラ構造における非晶相の一部が結晶化しようとする前駆現象に起因した所定のピークのピークシフトを測定する工程と、を有する結晶性高分子の劣化測定方法。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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