光計測システムおよび光計測方法
- 開放特許情報番号
- L2019000380
- 開放特許情報登録日
- 2019/3/26
- 最新更新日
- 2020/11/20
基本情報
出願番号 | 特願2016-204385 |
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出願日 | 2016/10/18 |
出願人 | 国立大学法人 筑波大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2018/4/26 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人 筑波大学 |
発明の名称 | 光計測システムおよび光計測方法 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出 |
適用製品 | 光計測システムおよび光計測方法 |
目的 | 単純な光学系であって、多数の微粒子の形状およびサイズを推定することを可能とする、光計測システムおよび光計測方法を提供すること。 |
効果 | 単純な光学系であるが、回折限界の制約がないため、従来より10倍以上の精度で、微粒子(光散乱体)の形状およびサイズを計測することができる。 |
技術概要![]() |
支持台に載置された微粒子に光を照射して、前記微粒子に関する情報を取得する光計測システムであって、
レーザー光源と、 前記レーザー光源を用いて前記微粒子に照射するレーザー光の集光スポットの形状を、線状となるように調整するレーザー光集光スポット形状調整手段と、 前記レーザー光の集光スポットを、前記微粒子の位置に合うように調整するレーザー光集光スポット位置調整手段と、 前記レーザー光の光軸と直交する軸を中心に、前記微粒子と前記集光スポットとを相対的に回転させて、前記微粒子に対する前記レーザー光の入射角度を調整するレーザー光入射角度調整手段と、 前記微粒子から散乱される散乱光を利用して、前記微粒子の投影像を表示する微粒子投影像表示手段と、を備えていることを特徴とする光計測システム。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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