姿勢パラメータ推定技術

開放特許情報番号
L2019000345 この特許をより詳しくイメージできる、登録者からの説明資料をご覧頂けます
開放特許情報登録日
2019/3/5
最新更新日
2019/3/5

基本情報

出願番号 特願2012-218348
出願日 2012/9/28
出願人 KDDI株式会社
公開番号 特開2014-071035
公開日 2014/4/21
登録番号 特許第5988368号
特許権者 KDDI株式会社
発明の名称 画像処理装置及び方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 画像処理装置及び方法
目的 限られた拘束条件のもとで基準座標系を高精度に推定すること。
また、前記高精度に推定された配置に基づいて、対象を直方体のような特定の形状に必ずしも限定することなくその寸法を高精度に推定すること。
効果 基準座標系において幾何特徴の初期配置を推定し、基準座標系における指標の初期配置と合わせて用いて基準座標系の撮像装置に対する姿勢を高精度に推定できる。この際、既知の指標の利用に加えて、平行関係及び/又は直交関係としてのみ構成され指標との相対配置等のその他の拘束条件を有しない幾何特徴を利用するので、限られた拘束条件のもとで単一の指標を利用した場合と比較して高精度な推定が可能となる。高精度に推定された基準座標系を用いて寸法測定を行うので、高精度な寸法測定が可能となり、対象を直方体等の特定形状に限定する必要はない。
技術概要
撮像装置が撮像した撮像画像より、大きさ及び配置が既知の所定の指標であって同一平面上にある少なくとも4つの点又は線分を特定可能なように構成されている指標が設置された平面において指標が定める基準座標系を、当該指標と、当該平面上における平行関係及び/又は直交関係として構成された所定の幾何特徴と、を用いて推定する画像処理装置であって、
撮像画像より指標を検出する指標検出部と、指標を基準座標系にて表現した所定の初期配置と、検出された指標の撮像画像上での配置とに基づいて基準座標系の撮像装置に対する初期姿勢を算出すると共に、初期姿勢が表す変換関係を大きさ、位置及び向き並びに歪みに対応する各要素に分解する初期姿勢算出部と、撮像画像より幾何特徴を検出する幾何特徴検出部と、検出された幾何特徴における歪みの要素と、分解された大きさ並びに位置及び向きの要素とに基づいて幾何特徴の基準座標系における初期配置を推定する初期配置推定部と、指標の所定の初期配置及び推定された幾何特徴の初期配置と、検出された指標及び幾何特徴の撮像画像上における配置との全体としての対応関係より、基準座標系の撮像装置に対する姿勢を推定する基準座標系推定部とを備える。
実施実績 【有】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 KDDI株式会社

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2019 INPIT