物体マーキング用高分子薄膜およびその製造方法、物体測定キット、物体の測定方法

開放特許情報番号
L2019000329
開放特許情報登録日
2019/2/21
最新更新日
2019/2/21

基本情報

出願番号 特願2017-127228
出願日 2017/6/29
出願人 学校法人早稲田大学
公開番号 特開2019-010151
公開日 2019/1/24
発明の名称 物体マーキング用高分子薄膜およびその製造方法、物体測定キット、物体の測定方法
技術分野 食品・バイオ、化学・薬品、機械・加工
機能 検査・検出
適用製品 物体マーキング用高分子薄膜
目的 測定対象への干渉や被験者や測定者の負担が少なく、測定対象に正確に標識を付与できる物体マーキング用高分子薄膜とその製造方法、物体の形状又は形状変化を精密に解析できる物体測定キットとこれを用いた物体の形状又は形状変化の測定方法を提供すること。
効果 密着性を有し、物体に対する追従性が高いため、所望の位置に正確に標識を付与でき、物体の精密な座標データを得られる。また物体への干渉、および被験者や測定者の負担を軽減できる。
技術概要
単層膜又は積層膜からなり、低ヤング率で、かつ密着性を有する高分子膜であって、該高分子膜の膜面の少なくとも一方に、一つ以上のマーキング領域を有し、各マーキング領域内に一つ以上の標識を備えることを特徴とする物体マーキング用高分子薄膜。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 本件は、『早稲田大学技術シーズ集(問合NO.1944)』に掲載されている案件です。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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