電磁波による非破壊検査装置及び方法
- 開放特許情報番号
- L2019000233
- 開放特許情報登録日
- 2019/2/15
- 最新更新日
- 2019/2/15
基本情報
出願番号 | 特願2006-307008 |
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出願日 | 2006/11/13 |
出願人 | 国立大学法人山口大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2008/3/13 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人山口大学 |
発明の名称 | 電磁波による非破壊検査装置及び方法 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出 |
適用製品 | 電磁波による非破壊検査装置及び方法 |
目的 | 電磁波による非破壊検査において、移動検査装置本体と検査対象物との間にすき間があっても、検査対象物内部に効果的に電磁波を入射させることができる装置及び方法を提供すること。 |
効果 | 電磁カップリングにより、移動検査装置本体と検査対象物との間にすき間があっても検査対象物内部に効果的に電磁波を入射させることができる。検査装置本体は高速で移動することが多く、電磁カップリングが検査対象物表面にある障害物に接触すると破損してしまう恐れがあるが、本発明の構成を採用すれば電磁カップリングの破損を防ぐことができ、スムーズな高速検査が可能となる。電磁カップリングは、検査対象物表面に対して接触状態でも非接触状態でも利用できるが、非接触にすることで電磁カップリングを長寿命化したり、あるいは破損を防ぐ。 |
技術概要![]() |
検査対象物の表面上を移動する検査装置本体と、
前記検査装置本体に搭載され、前記検査対象物に向けて電磁波を照射する電磁波照射手段と、 前記検査装置本体に搭載され、前記電磁波照射手段から照射された電磁波の反射波信号を取得する受波手段と、 前記受波手段によって取得された反射波信号を信号処理することによって前記検査対象物の欠陥を検出する信号処理手段と、 を有する検査装置であって、 前記検査装置本体は、前記検査対象物表面での電磁波反射を抑えるため、少なくとも前記電磁波照射手段と前記検査対象物表面との間に、空気よりも高い誘電率を有する電磁カップリング手段を有し、 前記電磁カップリング手段は、前記検査装置本体の底面から垂下がった、空気よりも高い誘電率を有する複数のひも状体であることを特徴とする検査装置。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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