| 出願番号 |
特願2014-538203 |
| 出願日 |
2013/9/27 |
| 出願人 |
国立大学法人北海道大学 |
| 公開番号 |
WO2014/050141 |
| 公開日 |
2014/4/3 |
| 登録番号 |
特許第6202499号 |
| 特許権者 |
国立大学法人北海道大学 |
| 発明の名称 |
光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置 |
| 技術分野 |
情報・通信、電気・電子 |
| 機能 |
機械・部品の製造 |
| 適用製品 |
光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置 |
| 目的 |
２つのホログラム間における物体光および参照光の強度分布の不一致を補償して、物体光に含まれる位相情報を高精度に測定することができる光位相測定方法および光位相測定装置を提供すること。また、前記光位相測定装置を有する光通信装置を提供すること。 |
| 効果 |
本発明に係る位相測定方法および位相測定装置によれば、物体光に含まれる位相情報を高精度に測定することができる。また、本発明に係る光通信装置によれば、モード分割多重通信およびモード拡散多重通信を実現することができる。 |
技術概要
 |
物体光に含まれる位相情報を測定する光位相測定方法であって、第１光強度検出部および第２光強度検出部において、試験物体光の強度分布を検出する工程と、前記試験物体光と干渉しうる参照光の位相を変化させて、互いに位相が異なる第１参照光および第２参照光を生成する工程と、前記第１光強度検出部において、前記第１参照光の強度分布を検出するとともに、前記第２光強度検出部において、前記第２参照光の強度分布を検出する工程と、物体光および前記第１参照光から第１ホログラムを生成するとともに、前記物体光および前記第２参照光から第２ホログラムを生成する工程と、前記第１光強度検出部において、前記第１ホログラムの強度分布を検出するとともに、前記第２光強度検出部において、前記第２ホログラムの強度分布を検出する工程と、前記第１光強度検出部において検出された前記試験物体光の強度分布、前記第１参照光の強度分布および前記第１ホログラムの強度分布、ならびに前記第２光強度検出部において検出された前記試験物体光の強度分布、前記第２参照光の強度分布および前記第２ホログラムの強度分布に基づいて前記物体光に含まれる位相情報を算出する工程と、を有する、光位相測定方法。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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