光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置

開放特許情報番号
L2018001598
開放特許情報登録日
2018/8/14
最新更新日
2018/8/14

基本情報

出願番号 特願2014-538203
出願日 2013/9/27
出願人 国立大学法人北海道大学
公開番号 WO2014/050141
公開日 2014/4/3
登録番号 特許第6202499号
特許権者 国立大学法人北海道大学
発明の名称 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置
目的 2つのホログラム間における物体光および参照光の強度分布の不一致を補償して、物体光に含まれる位相情報を高精度に測定することができる光位相測定方法および光位相測定装置を提供すること。また、前記光位相測定装置を有する光通信装置を提供すること。
効果 本発明に係る位相測定方法および位相測定装置によれば、物体光に含まれる位相情報を高精度に測定することができる。また、本発明に係る光通信装置によれば、モード分割多重通信およびモード拡散多重通信を実現することができる。
技術概要
物体光に含まれる位相情報を測定する光位相測定方法であって、第1光強度検出部および第2光強度検出部において、試験物体光の強度分布を検出する工程と、前記試験物体光と干渉しうる参照光の位相を変化させて、互いに位相が異なる第1参照光および第2参照光を生成する工程と、前記第1光強度検出部において、前記第1参照光の強度分布を検出するとともに、前記第2光強度検出部において、前記第2参照光の強度分布を検出する工程と、物体光および前記第1参照光から第1ホログラムを生成するとともに、前記物体光および前記第2参照光から第2ホログラムを生成する工程と、前記第1光強度検出部において、前記第1ホログラムの強度分布を検出するとともに、前記第2光強度検出部において、前記第2ホログラムの強度分布を検出する工程と、前記第1光強度検出部において検出された前記試験物体光の強度分布、前記第1参照光の強度分布および前記第1ホログラムの強度分布、ならびに前記第2光強度検出部において検出された前記試験物体光の強度分布、前記第2参照光の強度分布および前記第2ホログラムの強度分布に基づいて前記物体光に含まれる位相情報を算出する工程と、を有する、光位相測定方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 譲渡に関しては応相談。下記は研究シーズのURLです。

https://seeds.mcip.hokudai.ac.jp/jp/view/152/

米国:特許第9,459,155号

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【有】   
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