電子顕微鏡によるナノ粒子の直接的な同定・定量のための検出キットおよび方法

開放特許情報番号
L2018001352
開放特許情報登録日
2018/6/27
最新更新日
2018/6/27

基本情報

出願番号 特願2016-237703
出願日 2016/12/7
出願人 国立大学法人浜松医科大学
公開番号 特開2017-201289
公開日 2017/11/9
発明の名称 電子顕微鏡によるナノ粒子の直接的な同定・定量のための検出キットおよび方法
技術分野 情報・通信、輸送、電気・電子
機能 その他
適用製品 電子顕微鏡によるナノ粒子の直接的な同定・定量のための検出キットおよび方法
目的 観察対象のナノ粒子が既知であるか未知であるかを問わず、電子顕微鏡による直接観察で試料中のナノ粒子を感度よく同定することができるとともに、簡便でありながら迅速かつ正確に定量することができるナノ粒子の検出キットおよび方法を提供する。
効果 観察対象のナノ粒子が既知であるか未知であるかを問わず、電子顕微鏡による直接観察で試料中のナノ粒子を感度よく同定することができるとともに、簡便でありながら迅速かつ正確に定量することができるナノ粒子の検出キットおよび方法が提供される。
技術概要
電子顕微鏡による直接観察で試料中のナノ粒子を同定または定量するための検出キットであって、
表面がマイナス電荷またはプラス電荷にチャージされているプレートと、
試料中のナノ粒子を特異的に標識するための標識剤と、
試料中のナノ粒子を薄膜で覆うための電子顕微鏡観察用保護剤とを具備することを特徴とする検出キット。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【有】   
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